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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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蔡司EVO系列
操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡平臺(tái)，適用于日常檢測(cè)與研究應(yīng)用
EVO系列結(jié)合高性能掃描電子顯微鏡，為顯微鏡專(zhuān)家和新用戶帶來(lái)直觀且易操作的使用體驗(yàn)。憑借豐富的選件，無(wú)論是在生命科學(xué)、材料科學(xué)，或是在日常工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，EVO均可根據(jù)您的需求量身定制。
l用于顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案
l獲取真實(shí)樣品的出色圖像
l使用六硼化鑭（LaB6）發(fā)射體實(shí)現(xiàn)高圖像質(zhì)量
l對(duì)非導(dǎo)電和未涂層樣品進(jìn)行出色的成像和分析
l工作流自動(dòng)化和數(shù)據(jù)完整
智能化導(dǎo)航和成像
提高您的樣品處理通量，提升工作效率和性能
蔡司導(dǎo)航相機(jī)
相機(jī)可安裝在樣品倉(cāng)中，以監(jiān)測(cè)樣品與背散射探測(cè)器極靴之間的相對(duì)位置(樣品倉(cāng)相機(jī));或安裝在真空樣品倉(cāng)門(mén)上(導(dǎo)航相機(jī))，以概覽樣品載具上的樣品或零部件排列。該視圖可用于預(yù)設(shè)光學(xué)顯微鏡圖像標(biāo)識(shí)的感興趣區(qū)域，并在整個(gè)樣品檢測(cè)過(guò)程中實(shí)現(xiàn)輕松導(dǎo)航。
自動(dòng)化智能成像
EVO可以在無(wú)人值守的情況下自動(dòng)完成跨批次樣品的自動(dòng)化圖像采集。蔡司自動(dòng)化智能成像非常適合日常檢測(cè)應(yīng)用，用戶可以定義邊界區(qū)域、自動(dòng)生成由所需觀察視野或放大倍率確定的感興趣區(qū)域，并開(kāi)始自動(dòng)圖像采集，從而提高您的樣品處理通量，提升工作效率和性能。
邁入檢測(cè)應(yīng)用新時(shí)代
使用六硼化鑭（LaB6）電子槍獲取更豐富的數(shù)據(jù)
相較傳統(tǒng)發(fā)針型鎢燈絲，六硼化鑭陰極的電子發(fā)射可以按您所需，保證圖像的每個(gè)細(xì)微之處都得到展示。您將從下面兩方面獲益：
l在電子探針大小（如分辨率）不變的情況下，您可以獲得更高的探針電流，更輕松地進(jìn)行圖像導(dǎo)航和優(yōu)化。
l在探針束流（信噪比）不變的情況下，束流直徑要小得多，可以提高圖像分辨率。
EVO能與其他顯微鏡良好互聯(lián)
從工作流自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)中受益
應(yīng)用
制造與裝配工業(yè)
l質(zhì)量分析/質(zhì)量控制
l失效分析/金相研究
l清潔度檢驗(yàn)
l符合ISO 16232和VDA 19第1第2部分標(biāo)準(zhǔn)的顆粒形態(tài)分析和化學(xué)分析
l非金屬夾雜物分析
半導(dǎo)體和電子元件
l電子元件、集成電路、MEMS器件和太陽(yáng)能電池的可視化檢查
l銅線表面和晶體結(jié)構(gòu)檢測(cè)
l金屬腐蝕檢測(cè)
l截面失效分析
l焊腳檢測(cè)
l電容器表面成像
鋼和其他金屬
l金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)特性及其晶體結(jié)構(gòu)的成像和分析
l相、顆粒度、焊接和失效分析
原材料
l地質(zhì)樣品的形貌、礦物學(xué)和成分分析
l金屬結(jié)構(gòu)、斷裂和非金屬夾雜物的成像與分析
l微粉化和制粒過(guò)程中原料化學(xué)品和活性成分的形貌與成分分析
材料科學(xué)研究
l研究應(yīng)用中表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電材料樣品
生命科學(xué)
l研究植物、動(dòng)物和微生物
法醫(yī)學(xué)
l槍擊殘留物（GSR）
l涂料和玻璃分析
l硬幣偽造
l頭發(fā)和纖維對(duì)比
l法醫(yī)毒理學(xué)
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